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詳細摘要： XE-SP700射頻導納物位計廣泛適用各行業(yè)中液體、顆粒和塊狀物料倉料位的連續(xù)測量,。適用于在高溫,、高壓力、強腐蝕,、強粘附、強沖擊、強磨損,、粉塵大的環(huán)境下進行測量...

詳細摘要： 防爆高溫防腐型射頻導納料位計是使用射頻導納控制技術(shù)設(shè)計制作的一種新型物位測量儀表,。射頻導納測量技術(shù)，簡單的說就是使用高頻電流測量系統(tǒng)導納的方法,。點位射頻導納技術(shù)...

詳細摘要： 高溫型射頻導納物位計用于連續(xù)物位的測量,，產(chǎn)品應用于工礦現(xiàn)場，適用于大多數(shù)應用場合,，儀表由一個電路單元一套防爆外殼和桿式或纜式傳感元件組成,，傳感器有多種型號可選，...

詳細摘要： 平板型射頻導納物位計采用射頻導納技術(shù),，對被測介質(zhì)的電容,、電阻、電感進行連續(xù)檢測,，并通過智能電路將其轉(zhuǎn)換為物位信號,，由于其同時檢測多個物理量且這些物理量之間存在相...

詳細摘要： 射頻導納物位計采用了射頻導納技術(shù),其實就是電容電容 的供應商式物位計的升級，zui主要的改進是解決了粘附物料對測量的影響,。它比電容式物位計更可靠,、更準確、適用性...

詳細摘要： ZC500LD型脈沖雷達物位計對惡劣環(huán)境及被測物料適應性強等特點,，采用世界上*的大規(guī)模集成電路,，利用雷達原理、數(shù)字信號處理技術(shù)和快速傅里葉變換（FFT）技術(shù),。采...

詳細摘要： 高溫吹掃型平面雷達物位計概述高溫吹掃型平面雷達物位計發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖,，通過天線發(fā)射并接收。雷達波以光速運行,。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號...

詳細摘要： 防腐棒式物位計產(chǎn)品概述傳感器是*的雷達式物位測量儀表,，測量距離zui大20米，可以用于存儲罐,、中間緩沖罐或過程容器以及各種料倉的物位測量,，輸4-20mA模擬信號...

詳細摘要： XE-8260AS-H高溫平面雷達物位計是應用于測量固體和液體物/物位測量的大量程連續(xù)調(diào)頻雷達。JLRS560是當今市場上zui便捷,、可靠的雷達料位計,，它以78...

詳細摘要： XED58拋物面雷達物位計測量大距離可達80米。天線被進一步優(yōu)化處理,，新型的快速的微處理器可以進行更高速率的信號分析處理,，使得儀表可以用于如：反應釜或固體料倉非...

詳細摘要： 導波雷達料位計產(chǎn)品概述：HJRD33導波雷達料位計是采用微波技術(shù)來檢測料位的高科技產(chǎn)品，該料位儀利用微波具有穿透性好,，對惡劣環(huán)境及被測物料適應性強等特點,，采用世...

詳細摘要： XE-51L系列導播雷達物位計適用于各種過程條件復雜的容器,、儲罐,、料倉等,，且不受被測介質(zhì)物理特性變化影響，外部測量,，兩線制技術(shù),，適用于防爆場合，非接觸式與連續(xù)測...

詳細摘要： XE-LD系列26G高頻雷達物位計是重高頻雷達式物位測量儀表,，測量距離可達70米,，可以測反應釜或固體料倉非常復雜的測量條件。

詳細摘要： 調(diào)頻雷達物位計它基于時間行程原理的測量儀表,，雷達波以光速運行,，運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。探頭發(fā)出高頻脈沖在空間以光速傳播,，當脈沖遇到物料表面時反...

詳細摘要： 脈沖雷達物位計測量原理: 發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收,。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件轉(zhuǎn)換成物位信號,。一種特殊的時間延伸方法可...

詳細摘要： TXRD1000B系列高頻雷達物位計,、雷達液位計簡介TXRD1000B系列傳感器是*的雷達式物位測量儀表，測量距離大35米,，可以用于存儲罐,、中間緩沖罐或過程容器...

詳細摘要： 智能雷達物位計是發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波的傳播速度和光速可以看成一樣,，在傳播過程中通過電子部件轉(zhuǎn)換成物位信號,。這是zi能雷達物...

詳細摘要： 雷達物位計是將發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行,。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號,。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短...

詳細摘要： 高頻雷達物位計是區(qū)別于低頻雷達物位計的產(chǎn)品，是目前雷達物位計zu新的產(chǎn)品,。其常見的測量頻率為24G或者26G,，而傳統(tǒng)低頻的雷達物位計，測量頻率普遍在6.3G或者...

詳細摘要： 導波雷達物位計發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播,，遇到被測介質(zhì),，由于介電常數(shù)突變，引起反射,，一部分脈沖能量被反射回來,。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔...